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dc.creatorJiayu, Xie-
dc.date.accessioned2019-08-12T17:51:58Z-
dc.date.available2019-08-12T17:51:58Z-
dc.date.issued2018-12-06-
dc.identifier.citationJIAYU, Xie. Sistema de identificação entomológica forense: uma abordagem usando LabVIEW. 2018. 43 f. Trabalho de Conclusão de Curso (Graduação em Engenharia Eletrônica) - Universidade Tecnológica Federal do Paraná, Curitiba, 2018.pt_BR
dc.identifier.urihttp://repositorio.roca.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/11614-
dc.description.abstractForensic entomology is one of the most accurate resources available for identifying origin of certain crimes, such as homicides, spawning grounds, drug trafficking, and smuggling. However, the lack of a complete police entomological database and an automatic recognition system to identify this type of traces have delayed the solution of countless crimes of high social repercus­sion. Forensic Engineering group Edmund Loccard of UTFPR, convened to the Department of Federal Police and CAPES developed a prototype of a regional entomological database, where methods of image pattern recognition are applied. This work aimed to develop and test an automatic identification system for these insect species, specifically using the LabVIEW tool. Several algorithms were implemented in this application, where images of partial fragments of insects, collected as traces at crime sites, were compared to the database. The ultimate goal is to identify the origin of the drug seized and the consequent identification of suspicious groups. The results showed that it was possible to establish a matching between the base of images trained with test images as well as images containing only fragments of insects.pt_BR
dc.languageporpt_BR
dc.publisherUniversidade Tecnológica Federal do Paranápt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectEntomologia forensept_BR
dc.subjectIdentificaçãopt_BR
dc.subjectProcessamento de imagenspt_BR
dc.subjectSistemas de reconhecimento de padrõespt_BR
dc.subjectForensic entomologypt_BR
dc.subjectIdentificationpt_BR
dc.subjectImage processingpt_BR
dc.subjectPattern recognition systemspt_BR
dc.titleSistema de identificação entomológica forense: uma abordagem usando LabVIEWpt_BR
dc.title.alternativeEntomological identification system: an approach using LabVIEWpt_BR
dc.typebachelorThesispt_BR
dc.description.resumoA entomologia forense é um dos recursos disponíveis mais precisos, no que tange à identificação de origem para determinados crimes, como homicídios, locais de desova, tráfico de drogas e contrabando. Contudo, a falta de um banco de dados entomológico policial completo e um sistema de reconhecimento automático para identificação deste tipo de vestígio, têm retardado a solução de inúmeros crimes de alta repercussão social. O grupo de Engenharia Forense Edmund Loccard da UTFPR, conveniado ao Departamento de Polícia Federal e CAPES desenvolveu um protótipo de banco de dados entomológicos regional, onde são aplicados métodos de reconhecimento de padrões de imagem. Este trabalho teve como objetivo desenvolver e testar um sistema de identificação automática para estas espécies de insetos, utilizando especificamente a ferramenta LabVIEW. Foram implementados diversos algoritmos à esta aplicação, onde foram comparadas imagens de fragmentos parciais de insetos, coletados como vestígios em locais de crime, ao banco de dados. O objetivo final é a identificação de origem da droga apreendida e a consequente identificação de grupos suspeitos. Os resultados obtidos revelaram que foi possível estabelecer um matching entre a base de imagens treinadas com imagens de teste, bem como imagens contendo apenas fragmentos de insetos.pt_BR
dc.degree.localCuritibapt_BR
dc.publisher.localCuritibapt_BR
dc.contributor.advisor1Faria, Rubens Alexandre de-
dc.contributor.advisor-co1Maia, Ozana Maria Andrade-
dc.contributor.referee1Faria, Rubens Alexandre de-
dc.contributor.referee2Lazzaretti, André Eugênio-
dc.contributor.referee3Maia, Ozana Maria Andrade-
dc.contributor.referee4Borba, Gustavo Benvenutti-
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.programCurso de Engenharia Eletrônicapt_BR
dc.publisher.initialsUTFPRpt_BR
dc.subject.cnpqCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICApt_BR
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