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Título: Análise da vida útil de lâmpadas fluorescentes utilizando diferentes tipos de circuitos de pré-aquecimento
Autor(es): Crepaldi, José Augusto
Frigatti, Michael Fermino Ceccon
Luckow, Rodrigo
Orientador(es): Gules, Roger
Palavras-chave: Lâmpadas fluorescentes
Reatores elétricos
Iluminação
Fluorescent lamps
Electric reactors
Lighting
Data do documento: 30-Jul-2012
Editor: Universidade Tecnológica Federal do Paraná
Câmpus: Curitiba
Referência: CREPALDI, José Augusto; FRIGATTI, Michael Fermino Ceccon; LUCKOW, Rodrigo. Análise da vida útil de lâmpadas fluorescentes utilizando diferentes tipos de circuitos de pré-aquecimento. 2012. 91 f. Trabalho de Conclusão de Curso (Graduação) – Universidade Tecnológica Federal do Paraná, Curitiba, 2012.
Resumo: Atualmente, as lâmpadas fluorescentes vêm sendo empregadas em larga escala. Devido à maior eficácia luminosa, a utilização das lâmpadas fluorescentes resulta em considerável economia de consumo de energia elétrica, quando comparada às lâmpadas incandescentes comuns. No entanto, as lâmpadas fluorescentes apresentam algumas particularidades. Uma importante característica é o fato que, caso a temperatura dos filamentos não seja adequada no momento da partida, faz-se necessário aplicar um alto valor de tensão para ligar a lâmpada. Isto tende a acelerar o desgaste da lâmpada, reduzindo a vida útil desta. Portanto, a presença de um circuito auxiliar de pré-aquecimento para as lâmpadas fluorescentes, especialmente as do tipo T5, é fundamental para evitar o desgaste dos filamentos destas, garantindo uma melhor condição de partida e, consequentemente, resultando em um aumento da vida útil. Este trabalho apresenta os principais tipos de circuito de pré-aquecimento em reatores auto-oscilantes para lâmpadas fluorescentes T5. O projeto propõe o desenvolvimento e implementação de um sistema eletrônico de testes autônomo, por meio do qual seja possível realizar um ensaio comparativo entre os tipos de pré-aquecimento mais comuns. Desta forma, o sistema de testes deve ser capaz de avaliar a influência destes circuitos na vida útil da lâmpada fluorescente, através da contagem do número de ciclos de operação realizados até a ocorrência de defeito na lâmpada. Incumbe, também, ao circuito de testes identificar a adequada operação dos circuitos de pré-aquecimento, acarretando o estudo e possível implementação de modificações necessárias ao correto funcionamento desses circuitos.
Abstract: In the present days, the fluorescent lamps are being widely used. When compared to the incandescent normal lamps, due to its greater luminous efficiency, the use of fluorescent lamps results in considerable energy saving. However, the fluorescent lamps present some particularities. One important characteristic is the fact that, if the temperature of the filaments is not adequate at the ignition moment, it is necessary to apply a high tension to turn on the lamp. This tends to accelerate the lamp´s wear, reducing its lifetime. Therefore, the presence of an auxiliary preheating circuit for the fluorescent lamps, especially the T5 type, is fundamental to prevent its filaments from wearing out, guarantying a better condition for the ignition, and, consequently, resulting in a longer lifetime. This paper presents the main types of preheating circuits to self-oscillating ballast for T5 fluorescent lamps. This project proposes the development and implementation of an electronic system of autonomous tests, through which it is possible to perform a comparative test between the most common preheating types. Thus, this system of tests has to be able to evaluate the influence of these circuits in the fluorescent lamps´ lifetime, through the number of operation cycles accomplished until the lamps´ defects. Also, the test circuit has the incumbency of identifying the adequate operation of the preheating circuits, resulting in the study and possible implementation of needed modifications for the correct functioning of these circuits.
URI: http://repositorio.roca.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/680
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